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WDX1000多道波长色散X荧光光谱仪
EDX8000能量色散X荧光光谱仪
EDXPocket-1能量色散X荧光光谱仪
EDX6600能量色散X荧光光谱仪
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X荧光测厚仪
盐雾试验箱
 
 
 
 

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EDX8000多道色散X荧光光谱仪  
 
仪器介绍:
  可以精确地逐点测试被测对象,并给出完整的含量和镀层的平面分析图谱。EDX8000在进行RoHS检测及镀层检测时,会根据测量数据绘制的三维图象。并通过三维坐标轴全面地表示出测量范围内对应各个位置的有害元素含量(或镀层厚度)。同时EDX8000棉式数据输出,使操作者可以十分及时、直观地观察到测量结果。仪器还可以独立地对各个检测点的数据结果进行综合分析,并将结果显示出来。

 
技术指标:
分析精度: 0.05%
分析范围:1PPM-99.9%
测量元素:从硫至铀等75种元素
测量对象:粉末、固体、液体
     分析电镀溶液中的金属离子浓度
     可分析10层以上的镀层
测试镀层最薄至0.005μm
步进最小距离:0.01mm
测量时间:60~300秒
工作温度:15~30℃
相对湿度:≤70%
重 量:30KG
工作电压: AC 110V/220V

 
配置:
单样品腔
计算机、喷墨打印机
硅针半导体探测器
放大电路
高低压电源
X光管
双激光定位系统
50至100倍物体放大




   
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